連接器電氣性能測試項目及性能參數(shù)

電氣性能測試

主要測試項目和介紹如下：

接觸阻抗（Contact Resistance）

目的：維持連接器在使用期限內(nèi)的接觸阻抗，以減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減。

測試方法參考：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A。

測試要點：

a. 測試電流/電壓100mA@20mV，被測試連接器（連接系統(tǒng)）無負載。

b. 測試電流為低電流是為了避免接觸阻抗受到端子（導體）熱電效應(yīng)影響。

c. 測試電壓為低電壓是為了避免端子（導體）之間接觸界面絕緣薄膜被擊穿和熔化。

規(guī)范要求：一般要求50m（initial）；100m（final），即在壽命測試或環(huán)境測試后。

定義接觸阻抗此參數(shù)是為了減少信號和能量在傳輸過程中的損失或衰減，電流就像水流一樣，阻力越小，能量的損失和衰減就越少。

就連接器的接觸處而言，影響其阻抗大小的因素有正向力（對于彈性接觸結(jié)構(gòu)而言），接觸環(huán)境，如端子（導體）的表面粗糙度，表面處理方式（如電鍍的金屬特性和致密性），端子與端子（或其他導體）的結(jié)合方式（是焊接or鉚合or彈性接觸等）。

從電學理論角度來說，接觸阻抗為C點綠色圈接觸處的阻抗；在客人使用角度來說，連接器提供A點到B點的導通（連接），所以客人要的阻抗應(yīng)包含從A點到B點的所有導體本身的阻抗和接觸處的阻抗（包括焊接、鉚合等接觸方式） 如下圖所示。